人类学学报 ›› 1995, Vol. 14 ›› Issue (01): 48-50.
全跃龙,刘忠华,许平芳,丁锋
Quan Yuelong, Liu Zhonghua, Xu Pingfang et al.
摘要: 采用《瑞文推理测验图册》(CRT)及《韦氏儿童智力量》(WISC—RC),在随机整群分层抽样测试2906名中、小学生的基础上,对检出的84名智力超常儿童的皮纹学特征进行分析.结果表明:智力超常儿童Lu,Wd指纹出现率、b-c三叉间距、b-cTRC、指纹白线、主线横向指数与对照组之间存在显著差异.